实验一实验常用门电路逻辑功能测试.docVIP

实验名称：常用门电路逻辑功能测试 一、实验目的： 1、熟悉试验环境、学会识别常用芯片的引脚分配。 2、掌握逻辑门逻辑功能的测试方法。 3、掌握简单组合电路的设计。 二、实验内容： 测试实验室常用数字逻辑芯片的逻辑功能：74LS00 74LS02 74LS04 74LS08 74LS20 74LS32 74LS86（预习时查出每个芯片的功能、内部结构以及管脚分配） 2、应用与非门74LS00实现以下逻辑： ①：F=ABC ②：F= ③：F=A+B ④：F=B+A 三、实验内容步骤： （ 学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容，主要包括： 实验原理图；如： 实验真值表； 实验结果记录。如： 输入 输出 A B F3 0 0 灭 0 1 亮 1 0 亮 1 1 亮 实验总结 （ 学生根据自己实验情况，简要总结实验中遇到的问题及其解决办法） 注：本实验室提供的数字集成芯片有：74ls00,74ls02,74ls04,74ls08,74ls20,74ls32,74ls74，74ls90,74ls112，74ls138，74ls153,74ls161 F=A+B==