EDX2800检测仪作业指导书.docVIP

工序号 作业指导书 名称 EDX2800 检测仪 编号 1•测量目的: 1.1 ROHS指令：测量样品中 ROHS指令规定项如 Pb铅，Br溴，As砷，Hg汞，Cr铬， Cd镉元素等的有害物质含量。 1.2镀层厚度测量：测量样品表面的镀锡层厚度。 2•测试条件 2.1环境方面：避免室温过高，周围强电场干扰，物理振动等 2.2外用电源方面：建议使用 1000W的稳压电源。 2.3开机使用：先开机器 EDX 2800再开启电脑。 2.4准备测量：确保仪器与电脑正确连接，开机后要先进行仪器预热，时间约半小时。 3.操作顺序 ROHS指令操作： 3.1点击打开桌面 “ ROHS ”图标，运行该软件. 3.3首次测量时先在标样盒中找到纯银片，然后打开仪器在探测窗的中心位置放上纯银 片，点击“样品图”根据摄像头的指引，确保纯银片放在十字坐标的中心位置。然后盖好箱 盖确保仪器密封。 3.4点击“参数设置”的下拉列表找到“初始化”并点击。此时系统会自动提示“放入 校正银片！ ”在判断框内点击“ OK ”.此时仪器的放射性标志灯会点亮，并且能听到电机移动 的声音。初始化成功后，状态栏的峰通道将会显示 1105道，否则重新进行初始化操作。 3.5当放射性标志灯自动熄灭之后，取出纯银片放回样品盒中，以待下次使用。同样在 样品盒中取出 EC681标准界，同样放入十字坐标的中心位置。密封仪器后，在程序栏中选 择“测塑料及其它”选项，然后左键在工具栏中单击“开始” ，在样品名称中输入 EC681供 应商和批号项暂时可以不输入任何字符，然后在工具栏中点击“确定” 。此时放射性标志灯 亮，系统默认测试时间是 200秒，待200秒测试之后，系统自动生成一个表格，上面显示了 此标准界的实测值即各元素在标样中的含量， 将测量值与标样盒中的标准卡片对比， 以此来 判定测试仪器的准确性和可靠性。 3.6将样品按正确操作放到测试位置，注意样品要保证其平面放置在十字坐标的中心位 置。同样密封仪器后，根据样品性质在程序栏中正确选择测试曲线， 然后在工具栏中单击“开 始”按规定依次填写样品供货商和批号。单击“确定” ，系统自动重复上述操作，等待测试 结束后系统可以自动生成测量后的数值表格，如需导入 EXCEL单击“导入EXCEL ”即可。 3.7测试终止后，将样品从仪器中取出做好样品标记。 镀层厚度测量： 3.1双击打开桌面 “Motrol ”图标，运行该软件.选择“六”号准直器和“一”号滤光片。 然后选择此窗口的最小化模式。 3.3接着双击桌面的“ Thick2000usb ”软件图标，运行后选择菜单中“样品谱” ，在其下 拉列表中选择“观察样品”项， 接着在摄像头十字光标的指引下正确放置测试样品，确保被 测试点在十字光标的中心位置。最后盖好箱盖确保仪器密封。 3.4选择菜单中“设置”的下拉列表找到“调节仪器参数”项并单击。 【注意：此软件严 禁初始化。原因稍后叙述。】左键单击管理密码后面的“确认”图标，接着单击最后一行的 “退出”图标。 3.5选择菜单中的“工作曲线”在其下拉列表中单击“打开”项，选择“ 153 sn/c『 数据项，左键单击“打开”。 3.6选择菜单中的“样品谱”的下拉列表中的“加虚谱 1（ 1）项”在打开的选项中选择 “ cu 2007-1-17”数据项，单击“确定”。系统默认测量时间五十秒，单击“开始测量箭头 图标”，开始测量。右键单击谱线扫描位置，点击“锁定虚谱”项。 3.7测试终止后，单击功能项的“计算器”图标，系统自动计算出镀锡层的厚度。 4•测试要求 4.1样品要求测试面表面平整， 往测试窗中取放样品时要轻拿轻放， 避免样品透过测试膜 跌入测试窗中损坏仪器精密器件。尤其在测试液体和粉尘类样品时要注意。 4.2当测试标准界的数值与标准界卡片上的数值差异很大时，需要操作“管理员口令” 用软件校准仪器。此步操作为专业操作。 4.3仪器启动工作时占用 CUP和内存的资源都很大，仪器工作时电脑不要运行其它程序 和数据。 5•注意事项 5.1严禁开启仪器箱盖操作该软件。 5.2在摄像头指引下将样品放在测试窗十字光标位置后闭合仪器时要轻放仪器箱盖，避 免因为振动改变样品的测试位置。 5.3在镀锡层测量的3.4中严禁初始化的原因是：数据库的信息已被标准界修订过，初始 化会破坏被校正过的数据。 5.4软件的设计参数和数据不能随意改变。 更改标 记 数量 更改单 号 签名 日期 拟制 李崇聪 071024 审核 第几页 批准 共几页