设计用于测试电子或机电装置的开关系统.docVIP

电压低于250V ,电流低于5A，以及伏特赫兹乘积小于 107的情况。如果没有其它参 照，不推荐把这些解决方案外推到更高幅度或更高频率。 测试系统中的噪声源 对测试工程师来说，了解系统中有害噪声的来源是极为重要的。 一张设计规则表能帮助 降低有害噪声，但对于了解噪声来自何处则是很不够的。在专用于测试电子模块的电子测试 系统中，造成噪声的最重要原因是传导性耦合、公共阻抗耦合，以及电场和磁场。除了这些 噪声源外，一些系统还对来自电流效应、热偶噪声、电解效应、静电效应和导体运动的噪声 感应。 噪声最容易耦合进电路的一种途径是进入电路的导体， 它会产生传导性耦合噪声。 通过 喧闹噪声环境的导体有拾取噪声和传送至其它电路的极好机会。接至电路的电源线通常会造 成电容性耦合噪声。 当电流从两个不同电路通过公共阻抗时， 就会产生公共阻抗耦合。一个电路的地电压受 另一电路的影响。对每一电路来说，其地电位受公共地阻抗中其它电路地电流调制，从而导 致噪声耦合。 只要有电荷运动或存在电位差， 就会产生幅射磁场和电场， 电路中的高频干扰可能被检 波，而作为直流误差出现。开关系统电路对电台、电视和其它无线广播的电磁辐射也很敏感。 因此，有必要把敏感电路与这些电磁场屏蔽。 在测试系统环境中，仔细处理接地和屏蔽能实现最精确的低电平信号测量。 这些噪声降 低技术同样适用于单点和多点系统。 开关系统中的噪声 开关系统中的噪声源包括内部开关驱动电路、 开关上的热不平衡、 系统其它导体的噪声 耦合，以及系统外部产生的噪声。可通过机械设计把继电器所有触点置于相同的温度梯度， 或使用锁存继电器，以把热不平衡减到最小。在使用锁存继电器时，改变继电器状态的激励 时间只有15-20ms。这就消除了线圈能量这一主要热源。 来自相邻通道的噪声被耦合至测量通道， 构成对信号完整性的严重威胁。 正确的屏蔽和 接地技术可消除硬线系统的大量此类问题，但当信号必须有选择地切换至示波器、计数器或 某些其它测量仪器时，问题就变得十分尖锐。 在许多情况下，噪声主要来自系统中的相邻通道（串扰）。在图 2的简化等效电路中， 可看到开关系统中的大部份电容都跨开关触点，和在相邻的传导路径间。由于噪声耦合是面 积和接近程度的函数，减少耦合的简单方法就是隔离开关和相互间的导体。但增加开关密度 也是想要实现的目标；从而能在更小的箱体中实现更大的容量。 况且今天的被测系统也越来越 复杂，比过去有更多的测试点。因此，测试工程师将处于同时增加元件密度和通道距离的两 难境地。 降低噪声 屏蔽和接地是降低有害噪声的两项主要方法。 它们经常一起使用，例如把电缆屏蔽接地。 此时了解电缆屏蔽应在何处接地，以得到最高的屏蔽效率是非常重要的。在某些情况下，对 一种噪声问题的解决方案可能会降低其它噪声问题解决方案的效率，必须很好了解噪声源， 耦合方法和噪声接收器，以在它们之间作出适当的权衡。 屏蔽 测试系统的噪声屏蔽包括对电容性（电）和电感性（磁）耦合的屏蔽。 对电容性耦合的屏蔽 测试系统通道间的电容性噪声耦合由电路间的电场交互造成， 这易于理解，也易于进行 屏蔽。图3示出一条导线至另一条导线的噪声耦合是由导线间的电容（ C12 ）造成。对于负 载电阻R （在大多数实际情况中， R1/[j 3 （C12+C2G）]），噪声电压近似为： VNB j 3 RC12V1。 这一公式表明噪声电压与噪声源的频率和幅度、电阻 R及电容C12成正比。假定已为 噪声源的改进做出了最大努力，那么可改变的参数就只有 R和C12。 如果您能减小电容 C12，就将减小耦合至导线的噪声电压。当两者距离达到导线直径 40倍时，物理隔离将实现大约 8dB的噪声降低。再加大距离的效果就不明显了。另一种方 法是使用较低的阻值。但要求的电路负载或阻抗失配可能使这种方法并不可行。 在信号线周围使用具有相同电场 （屏蔽分布均匀） 的接地屏蔽可把信号线上的噪声电压 减小到零。但在高频时，导体不得超出屏蔽范围。这对接地的屏蔽是非常重要的。如果屏蔽 不接地，中心导体拾取的噪声电压就等于导线 1上的噪声电压。屏蔽仅仅是耦合了噪声电压 （图 4 ）。 图5示出中心导线暴露于屏蔽定义范围外时的同样电路 （它有有限的接地电阻）。此时 的噪声电压降低为： VN=j 3 RC12V1 由于电缆部分屏蔽降低了噪声耦合， C12已减小了很多。但如果屏蔽不完整， 那么C12 中必须包括屏蔽空洞的影响。 作为小结，需要采用好的电场屏蔽，最小化超出屏蔽范围的中心导体长度和提供屏蔽的 良好接 对电感性辐射的屏蔽 电感性耦合比电容性耦合更难消除。 事实上，上面例子中的良好电场屏蔽对电感性耦合 噪声毫无影响。 电感性耦合的一个重要来源是屏蔽与中心导体间的互感，它等于屏蔽互感（ M=Ls ）。 从图6中