压电元件导纳圆的测量试验报告.pdfVIP

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压电元件导纳圆的测量 精 赵诣 51 2005010482 实验目的 (1)测量压电元件的导纳,即测量阻抗,可提供该元件与所在电路之间的阻抗匹配数据; (2)通过测量压电元件或压电换能器的导纳圆可以得到其发射效率; (3)学习利用示波器测量交流阻抗的方法 二、实验原理 ( )压电效应 1 对某些电介质晶体施加机械应力时,晶体因内部正负电荷中心发生相对位移而产生极 化, 导致晶体两端面上出现符号相反的束缚电荷, 其电荷密度与应力成正比。 这种没有电场 作用, 由机械应力的作用而使电介质晶体产生极化并形成晶体表面电荷的现象称为压电效 应。当机械应 力由压应力变成拉应力时,电荷符号也改变。 于以上情况相反, 将具有压电效应的电介质晶体置于电场中, 电场的作用引起电介质内 部正负电荷中心产生相对位移, 而这一位移又导致介质晶体发生形变, 晶体的这种由外加电 场 产生形变的现象称为逆压电效应。 晶体形变的大小与外加电场强度成正比, 当电场反向时, 形 变也改变符号。 2)压电元件的等效电路 等效电路由右图所示: 电路总导纳为: (wL ) 1 2 R 1 wC 1 wC 1 ) 0 R (wL ) R (wL 1 2 2 1 2 2 1 w C1 1 wC1 1 1 1 1 动态导纳 y1 和总导纳Y 随频率变化情况如下: 2 2 1 b 1 2 g 1 1 2R 2R 1 1 取横座标表示电导 g,纵坐标表示电纳 jb ,则 U 的频率改变时,上式代表一个圆,称为导 纳 圆。如

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