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PAGE 1 PAGE 1 STIL—ATE与EDA之间的桥梁  随着集成电路设计标准化基本成熟，测试数据的标准化也势在必行，这就要求电子设计自动化软件（ElectronicDesignAutomation，以下简称EDA）供应商可以供应一种统一标准/格式的测试接口，从而取代目前国内惯用的由自动化测试设备（AutomaticTestEquipment，以下简称ATE）厂家针对特定ATE而开发的接口程序。本文介绍的正是符合这一特点的IEEE标准化的测试接口语言一STIL，包括它的基本结构、目前的应用状况以及集成电路制造商、EDA供应商和ATE供应商三方对STIL的  1STIL简介  STIL是StandardTestInterfaceLanguageforDigjtalTestVectorData.的简称，它是一种联系EDA（集成电路设计端）和ATE（集成电路测试端）的通用接口语言。  近十年来，各集成电路制造商在考虑前端设计、后端仿真，直到产生测试数据的时候都有各自的一套流程以及相对固定的数据格式（如图1所示），举例来说，对于一个新的产品，要产生ATE可以识别的测试数据（翟序），必需取决于使用何种EDA工具，集成电路厂商使用何种格式的数据来仿真测试，以及在最终选择那个厂家，型号的ATE来进行实测。我们可以看到，在这一过程中并没有一个统