异常电池片el测试图.pptVIP

* 电池片EL测试图及相关分析 光伏电池制造分公司 材料缺陷图例 烧结缺陷图例 工艺污染图例 关于黑心片的解释 直拉单晶硅拉棒系统中的热量传输过程对晶体缺陷的形成与生长起着决定性的作用。提高晶体的温度梯度, 能提高晶体的生长速率, 但过大的热应力极易产生位错。图7就是我们一般所说的“黑心”片的EL图。在图中可以清楚地看到清晰的旋涡缺陷, 它们是点缺陷的聚集, 产生于硅棒生长时期。此种材料缺陷势必导致硅的非平衡少数载流子浓度降低，降低该区域的EL发光强度。 黑心解释 关于黑团片的解释 关于黑斑片的网络解释 关于黑芯、黑团的单片EL图例 实际EL测试：黑芯片 2013年4月25日EL测试样图，效率为16.6-16.8%，主要表现为：Uoc、Isc较低，其他参数均正常。 测试数据 2013年5月7日EL测试样图，效率为14-16%，主要表现为：Uoc、Isc严重偏低，其他参数均正常。 实际EL测试：黑芯片 实际EL测试：黑团片 2013年5月7日EL测试样图，效率为0-10%，主要表现为：Uoc、Isc严重偏低，其他参数均正常。 2013年5月7日EL测试样图，效率为10-14%，主要表现为：Uoc、Isc严重偏低，其他参数均正常。 实际EL测试：黑团片 实际EL测试：类似于黑芯、黑团片 2013年2月27日EL测试样图 实际EL测试：类似于黑芯、断栅 2012年12月19日EL测试