电学的设计性实验 ——的设计制做半导体热敏电阻温度计.pptVIP

* * 电学设计性实验 ——设计制做半导体热敏电阻温度计 ——设计制做半导体热敏电阻温度计 一、实验目的 1，设计测温度范围“室温-75度”的温度计。 2，了解热敏电阻的特性，掌握用热敏电阻测量温度的基本原理和方法。 3，熟悉非平衡电桥的输出特性。 热敏电阻是材料的电阻值随温度的变化而变化的电阻。 根据温度系数可以分为： 正温度系数热敏电阻【PTC】：dR/dT0 负温度系数热敏电阻【NTC】： dR/dT0 正温度系数热敏电阻 金属材料: 原子热振动增加，阻碍电子运动。 负温度系数热敏电阻 以锰、钴、镍和铜等金属氧化物为主要材料，采用陶瓷工艺制造而成的。这些金属氧化物材料都具有半导体性质，温度低时，这些氧化物材料的载流子（电子和孔穴）数目少，所以其电阻值较高； 随着温度的升高，载流子数目快速增加，远大于原子阻碍的提高速度。所以电阻值降低。 NTC热敏电阻器可广泛应用于温度测量、温度补偿、抑制场合。 热敏电阻样品图 负温度系数热敏电阻 负温度系数热敏电阻的主要技术参数： 温度特性： B值： 其中RT和RN分别是温度T和N时的电阻值。B值也不是恒定值，只是在某一个区间内变化不大。 电流型非平衡电桥 在其他参数不变的条件下，RT 的变化直接影响Ig 的变化，而RT的阻值受温度的影响。 导致 Ig-t形成一一对应的关系。温度计的基础！ 电桥的Ig—RT关系 实验结果：温度与电流的关系 温度的定标 电学设计性实验（一）  ——设计制做半导体热敏电阻温度计 实验测量连线图（2） a. 外接稳压可调电源；b. 桥路接微安表；c. RX 处接热敏电阻； d. RS处接可调电阻箱； ūA 电学设计性实验（一）  ——设计制做半导体热敏电阻温度计 设计实验步骤 课上记录测量: 电阻箱的调节范围， 电源的调节范围， 微安表的量程和对应的内阻 [200uA,Ig=1920欧姆]， 热敏电阻的室温阻值【Rt室温】 选定的高温【75°C】的阻值[测量]。 参数的选择和计算 1，R1,R2 最好相等［电桥简单］ ２，电桥的四个电阻阻值要基本接近； ［R25=5000欧姆，R75=850欧姆］,｛R1,2000或3000欧姆｝ ３，Rs, E,的确定！ 在测量的低温端【室温】Ig=0uA,利用室温RT=R0,　　确定Rs; 在温度表的高温端【75度】，Ig=200uA［满偏］,和R75的阻值,利用上面公式计算出电源电压 E。 * *