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- 2022-04-08 发布于上海
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会计学
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石墨烯的表征
石墨烯的表征方法类型
为了研究石墨烯的层数和结构,现在主要有以下表征方法,光学显微镜法,扫描电子显微镜法(SEM)透射电子显微镜法(TEM),原子力显微镜法(AFM),拉曼光谱(Raman),红外光谱(IR),X射线光电子能谱(XPS),和紫外-可见光谱(UV-Vis)。
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石墨烯的具体表征方法介绍
石墨烯的表征主要分为图像类和图谱类,图像类以光学显微镜、透射电镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微分析(AFM)为主,而图谱类则以拉曼光谱(Raman)、红外光谱(IR)、X射线光电子能谱(XPS)和紫外光谱(UV)为代表。其中,TEM、SEM、Raman、AFM 和光学显微镜一般用来判断石墨烯的层数,而IR、XPS和UV则可对石墨烯的结构进行表征,用来监控石墨烯的合成过程。
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光学显微镜法和扫描电镜法
光学显微镜法
光学显微镜是快速简便表征石墨烯层数的一种有效方法。采用涂有氧化物的硅片作为衬底,调整硅的厚度到300nm,在一定波长光波的照射下,可以利用衬底和石墨烯的反射光光强的不同所造成的颜色和对比度差异来分辨层数。这是由于单层石墨层和衬底对光线产生一定的干涉,有一定的对比度,因而在光学显微镜下可以分辨出单层石墨烯。此外,用于观察的衬底也可以选用其它材料,如Si3N4、Al2O3和PMMA等,所得的石墨烯和
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