IEC 60747-5-9-2019 半导体器件–第5-9部分：光电器件–发光二极管–基于温度相关的电致发光的内部量子效率的测试方法.pdf

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2022-04-10 发布于中国
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IEC 60747-5-9-2019 半导体器件–第5-9部分：光电器件–发光二极管–基于温度相关的电致发光的内部量子效率的测试方法.pdf

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IEC IEC 60747-5-9 Edition 1.0 2019-12 INTERNATIONAL STANDARD Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION ICS 31.080.99 ISBN 978-2-8322-7656-3 Warning! Make sure that you obtained this publication from an authorized distributor. ® Registered trademark of the International Electrotechnical Commission Coryyrtjht loiematiortal Etectrotechnlcai Commteston - 2 - IEC 60747-5-9:2019© IEC:2019 CONTENTS FOREWORD3 1 Scope 5 2 Normative references 5 3 Terms, definitions and abbreviated terms5 3.1 Terms and definitions5 3.2 Abbreviated terms7 4 Measuring methods 7 4.1 Basic requirements7 4.1.1 Measuring conditions 7 4.1.2 Measuring instruments and equipment 7 4.2 Purpose 7 4.3 Measurement 8 4.3.1 Measurement setup 8 4.3.2