SMD固晶检验规范.pdfVIP

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DOC NO QSI-139 QSI 文件编号 检验规范 SMD 固晶检验规范 REV 版本 B PAGE 页码 1 of 3 1. 目的 为公司 SMD产品固晶生产之半成品提供检验依据 , 确保产品质量 , 特制定本规范。 2. 适用范围 固晶站半成品。 3. 检验方法 按 GB/T 2828.1-2012 一次抽样计划,特殊除外。 4. 辅助器具 4.1 显微镜。 4.2 镊子。 4.3 针笔。 4.4 推力计。 5. 流程图 6. 流程说明 6.1 固晶前 ( 支架烤烘 150℃/60min) 经 IPQC 与组长确认(物料与规格书及工单一致)后方可投产。 6.2 作业员首先进行首件制作 , 并确认 OK后填写首件确认单交组长与 IPQC签名确认。 6.3 制程中 IPQC依《 SMD固晶检验规范》进行不定时抽验 , 并每 2H 将检验结果记录在报表上。 6.4 合格品则在流程单上签名确认进入烘烤工序,不合格品则退回作业员重工直到合格为止。 6.5 IPQC 每日对烘烤烤箱温度抽测 2 次,记录于报表中。 6.6 第一次抽检 NG 则退回产线重工,同一作业员同一机台或同一型号连续二次抽检 NG 则开立【制程异 常处理单】知会生产线组长或课长提出相应对策改善。 FP001-05C DOC NO QSI-139 QSI 文件编号 检验规范 SMD 固晶检验规范 REV 版本 B PAGE 页码 2 of 3 6.7 IPQC 需不定时进行产线巡检,巡检内容包括机台保养、温湿度记录、 5S 及车间纪律。 7. 检验项目 项 检验项目 判定基准 图示 缺陷等级 次 1 晶粒翻转 晶粒之电极区未水平朝上 CR 2 错固 晶粒型号用错 CR 3 混产品 不同规格之产品混放在一起 CR 4 漏固晶片 固晶位置无晶粒 CR 固晶区与金线或金线与金线之间沾有银胶造 5 银胶短路 CR 成短路

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