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文件编号: WI-P 020
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WI 指引文件 数字卡尺内校规范 版号: 1.0 页号: /
拟制日期:
一、 适用范围:
适用于本公司检测用之数显卡尺。
二、 管理权责:品质部。
三、 作业程序:
3-1 依《量检具校验一览表》上所使用的外校合格、且在有效期内的量块、平板,并找出《量检
具设备校验履历表》及要求使用单位提供受检之设备。
3-2 备妥清洁用布、治工具内校记录表。
3-3 外观要求,数显卡尺表面不应有锈迹、碰伤、镀层脱落及其它影响质量的缺陷,数字显示应
清晰、完整,无黑斑和闪跳现象,各按钮功能可靠,工作稳定。
3-4 各部分相互作用,尺框沿尺身移动应手感平稳,深度尺不应有窜动,紧固螺母的作用应可靠。
3-5 刀口内量爪尺寸检测,将一块 6 等(或以上)量块置于两外量爪测面之间,旋紧固定螺钉,
量块不应滑落,用杠杆千分尺在全长范围内测量内量爪尺寸,尺寸偏差由测得值与量块之差
确定,检定结果不应大于下表的规定:
新制的和修理后 使用中
+0.015 ~0 +0.015 ~-0.005
3-6 示值变动性,移动尺框,使两外量面至手感接触时在表上读数,移动尺框五次,其最大与最
小值之差为变动性,检定结果不应大于 0.01mm。
3-7 示值误差检测:
3-7-1 外测量爪示值误差,用标准量块进行检测,各点示值误差以该点读数值与量块尺寸之差确
定,检定结果不应大于下表的规定。一般检测三点。下表为一般推荐检测点:
测量范围 检 定 点
0~150 38.4 76.8 145.6
0~200 38.4 145.6 196.8
0~300 76.8 214.4 299.2
文件编号: WI-P 020
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WI 指引文件 数字卡尺内校规范 版号: 1.0 页号: /
拟制日期:
示值误差规定:
受检尺寸 示值误差
0~200 ±0.03
≥200~300 0.04
≥300~500 0.05
3-7-2 深度尺示值误差:用一块尺寸为 20mm的 6 等或以上量块于平板上进行检定,读数值与量块
尺寸之差即为检定结果。
3-8 依检验结果进行判定后呈部门主管核准。
3-9 部门主管核准时,对于被判定不合格者,须做出“报废”
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