讲稿-相对介质损耗因数及电容量比值测试.pptxVIP

相对介质损耗因数及电容量比值带电测试2013年8月;2;一. 测量介损和电容量的意义;在交流电压作用下，流过介质的电流I由电容电流分量Ic和电阻电流分量IR两部分组成，IR就是因介质损耗而产生的，IR使流过介质的电流偏离电容性电流的角度δ称为介质损耗角,其正切值tanδ反映了绝缘介质损耗的大小,并且tanδ仅取决于绝缘特性而与材料尺寸无关,可以较好地反映电气设备的绝缘状况。此外通过介质电容量C特征参数也能反映设备的绝缘状况，通过测量这两个特征量以掌握设备的绝缘状况。;电容型设备由于结构上的相似性，实际运行时可能发生的故障类型也有很多共同点，其中有： 绝缘缺陷（严重时可能爆炸），包括设计不周全，局部放电过早发生； 绝缘受潮，包括顶部等密封不严或开裂，受潮后绝缘性能下降； 外绝缘放电，爬距不够或者脏污情况下，可能出现沿面放电； 金属异物放电，制造或者维修时残留的导电遗物所引起。;对于上述的几种缺陷类型，绝缘受潮缺陷约占电容型设备缺陷的85%左右，一旦绝缘受潮往往会引起绝缘介质损耗增加，导致击穿。 对于电容型绝缘的设备，通过对其介电特性的监测，可以发现尚处于早期阶段的绝缘缺陷，介损是设备绝缘的局部缺陷中，由介质损耗引起的有功电流分量和设备总电容电流之比，它对发现设备绝缘的整体劣化较为灵敏，如包括设备大部分体积的绝缘受潮，而对局部缺陷则不易发现。 测量绝缘的电容，除了能给出有关可能引