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XRF 操作问题解答 1.R o HS 测试时，为什么记数率变化很大？ 答：由于材料不同，X 荧光对不同的材料的激发效率就是不同的，所以记数率不相同的，同时，是因为金属成份比较复杂，其测量的记数率变化更大，其变 化并不影响实际的测量结果。 10.为什么测不出锡中的镉？ 答：锡中的镉是可以测量出的，只是由于目前的锡标样很多没有镉的标准含量值， 所以目前没有测量其结果，同时因为锡峰干扰了镉的峰，测试的结果偏差稍大。 样品测试时间有多长？ 11.你们仪器的精确度和准确性怎么样？ 答：测试时间越长，其测量的精度会越高，一般测量的时间与样品的测试记数率有关，记数率越小，所用的测量的时间越长，一般测试时间 120-200 秒，记数率 较小时，我们建议 200 秒为佳。 答：仪器的精度由于样品和含量的不同，其测量的精度不同，以塑胶为例：1000ppm 左右的含量其偏差在 30ppm 左右；在 100ppm 左右的含量，其偏差为 10ppm 左右。高含量的绝对偏差大，但相对偏差小；低含量绝对偏差小，而相对偏差大。 液体，油墨可以在贵公司仪器测试吗？ 12.为什么不能测量出六价铬、PBB 和 PBDE 的含量？ 答：可以，我们的仪器可以测液体，粉体和固体中的有害金属成份，测试方法非常 简单。 答：因为 X 荧光原理决定的，X 荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对其的化合状态无法判别，所以，六价铬， PBB 和 PBDE 的含量无法检测。 为什么测试结束后，没有弹出含量结果框？ 13.仪器对周围环境有什么要求？ 答：因为样品命名适用了特殊字符，样品命名不能使用“/，﹨：，？特殊字符，这是 由Windows 操作系统的限制。 答：环境温度 16-30℃，最好有空调。相对温度≦ 70％，越低越好。 为什么一个峰，一半是汞的颜色，一半是铅的颜色？ 14.同样的样品，他们测量结果和 SGS 的测量结果为什么不一样？ 答：（1）峰漂移，这种情况应重新初始化。 答：X 荧光测试设备属于表面测试，对不同物质，表面穿透能力不一样。SGS 是湿化学分析法，它是将样品均匀溶解，然后进行测量。如果多测的材质是均匀的 （2）其他元素的干扰。这种元素的并非是汞和铅。 样品，两者的测量结果相当，其相差在同等数量级上。如果表面有涂附层，那 为什么测不锈钢要把电流降低到 150 微安？ 答：因为不锈钢容易受激发，电流太大造成记数率太高，造成的光谱堆积现象严重， 么两者测量的偏差是比较大。 15.为什么测试会弹出“除零错误”？ 即得测量的误差加大。 答：选择工作曲线不正确，准直器放错，测试时间太短，样品太小，记数率偏低都 有可能出现“除零错误”，同时，如果工作曲线的数据被破坏，同样会造成“除零 为什么不可测针脚？ 错误”：如果操作系统使用在“来宾”帐户下，同样也会出现“除零错误”的。 答：针脚是可以测试的，如果测试其 ROHS 指标，可直接进行测试，如果测试镀层， 需要使用小的准直器，并使用标样标定，同时要测试多点的平均值，这样就可以达到测试的要求。 为什么测量小样品时，要用直径小的准直器？ 答：在测量小样品时，使用大的准直器是可以测量的，其测量的结果比较准确。使用小的准直器多是测量样品的某点含量的样品的干扰，如：测量 PCB 板上的焊点，可以减少“绿油”的影响。 为什么相近元素，会相互干扰？ 记数率偏低，为什么？ 答：跟样品的材质、大小和厚度有关：同时，探测器或 X 光管处于有污染物，同样对探测记数率有很大的影响。 曲线出现 负 斜率，为什么？ 答：（1）标样的 谱 测试不正确，或者含量值输入不正确 （2）人为勿加入非标样点，即数据错误。 为什么测试时，有很高的峰谱，而结果确是 ND？ 答：因为相近元素的电子受激发的能量相近，光谱会相互叠加，同时会互相抬高背 景。所以容易相互干扰。  第 1 页 共 5 页 XRF 操作问题解答 答：这种情况是由于其它元素光谱的干扰，其干扰在软件中已经做了校正处理，所 以看到的结果是 ND 的。还有一种情况就是软禁中的标准测试数据有错误，或 （2）金属标样自身的误差 者被更正。 (3)金属标样表面有镀层 为什么重新调出以前测试的样品谱结果不一样？ 26.为什么谱的保存路径要和软件的安装路径一致？ 答：（1）选择的样品类型与上次测量的类型不一样。 答：软件本身设计时候的要求 (2)这个样品谱无意中被另外的样品测试时覆盖过了。 27.为什么有时选择自动调节记数率，而有时则不选？ 在测试中，为什么对提示样品太小？ 答：这与测试的样品和采用的测量方法有光，原则是：当计算结果与样品的记数率 无关时，才可以采用调试记数率。 答:这一问题出现在成份分析软件中，在 ROHS 软件中无此现象，其多是在“一起参 数”选项中选择了“控