介电常数分析和总结.docxVIP

PAGE PAGE 10 实 验 报 告 00 系 2007 级 姓名 宁盛嵩 日期 2008-11-24 台号 8 号台实验题目:简易介电常数测试仪的设计与制作 88 实验目的: (1)了解多种测量介电常数的方法及其特点和适用范围; 掌握替代法，比较法和谐振法测固体电介质介电常数的原理和方法; 用自己设计与制作的介电常数测试仪，测量压电陶瓷的介电常数。 实验原理: 介质材料的介电常数一般采用相对介电常数ε r 来表示，通常采用 测量样品的电容量，经过计算求出ε ，它们满足如下关系： r ? ? ? ? Cd r ? ? 0 S （1） 0 式中ε为绝对介电常数，ε 为真空介电常数， ? ? 8.85 ?10?12 F / m ，S 0 0 为样品的有效面积，d 为样品的厚度，C 为被测样品的电容量，通常取频率为 1kHz 时的电容量 C。一、替代法 当实验室无专用测量电容的仪器，但有标准可变电容箱或标准可变电容器时，可采用替代法设计一简易的电容测试仪来测量电容。这种方法的优点是对仪器的要求不高，由于引线参数可以抵消，故测量精度只取决于标准可变电容箱或标准可变电容器读数的精度。若待测电容与标准可变电容的损耗相差不大，则该方法具有较高的测量精度。 替代法参考电路如图 2.2.6-1(a)所示，将待测电容 C （图中 R 是待测电容 x x 的介电损耗电阻），限流电阻 R (取 1kΩ)、安培计与信号源组成一简单串联电路。 0 合上开关 K ，调节信号源的频率和电压及限流电阻 R ，使安培计的读数在毫安范 1 0 围恒定（并保持仪器最高的有效位数），记录读数 I 。将开关 K 打到 B 点，让标 准电容箱 C s 和交流电阻箱 R s 替代 C x 调节 C 和 R s s x 值，使I s 2 接近 I 。多次变换开关 x K2 的位置(A,B 位)，反复调节 Cs 和 Rs，使 IS ? IX 。假定 Cx 上的介电损耗电阻 Rx 与标准电容箱的介电损耗电阻 R s 相接近（ R C C X? R?S ），则有 X S X ? R ? 图 2.2.6-1(a) 图 2.2.6-1(b) 另一种参考电路如图 2.2.6-1(b)所示，将标准电容箱 C s 调到极小值，双刀 双掷开关 K 2 扳到 AA’，测量 C x 上的电压 V x 值；再将 K 2 扳到 BB’，调节 C 让 C 上 s s 的电压 V 接近 V 。将开关K 来回扳到 AA’和BB’位，不断调节C 和 R 值，使伏 S x 2 V ? V R ? R s s C ? C 特计上的读数不变，即 S 二、比较法 X ，若 X S ，则有 X S 。 当待测的电容量较小时，用替代法测量，标准可变电容箱的有效位数损失太大，可采用比较法。此时电路引入的参量少，测量精度与标准电容箱的精度密切 V ? V 相关，考虑到 C 和 R s s 均是十进制旋钮调节，故无法真正调到 S X ，所以用 比较法只能部分修正电压差带来的误差。比较法的参考电路如图 2.2.6-2 所示， 假定 C s 上的 R x R x与 R 接近（ x s ? R ），则测量 C 和 C 上的电压比 V /V 即可求得 Sx s s x S C ： x C ? C X S  ?V /V S X  （此时 V 可以不等于 V ） s x 三、谐振法 谐振法测量电容的原理图见图 2.2.6-3，由已知电感L（取 1H），电阻R（取 1kΩ）和待测电容 C x 组成振荡电路，改变信号源频率使 RLC 回路谐振，伏特计上 指示最大，则电容可由下式求出： 1 C ? X 4? 2 f 2 L （2） 式中 f 为频率，L 为已知电感，C x 为待测电容。当待测电容C x 较小时，线圈 和引线的分布电容，伏特计的输入电容等都对测量结构有影响，信号源频率的波动和读数精度都将对测量结果有很大的影响，若不采取其他措施，将导致式（2） 计算的电容产生很大误差，而且待测电容 C x 越小，测量误差越大，这时可采用谐 振替代法来解决。 谐振替代法参考电路如图 2.2.6-4 所示，将电感器的一端与待测电容 C 串 x 联，调节频率 f 使电路达到谐振，此时电容上的电压达到极大值，固定频率 f ， 0 用标准电容箱 C 代替 C ，调节 C 使电路达到谐振，电容上的电压再次达到极大 s x s X S值，此时C ? C 。此方法的特点是电路简单、测量方便、测量精度与电感 X S 和信号源频率 f 的测量精度无关，只取决于标准电容箱 C s 的精度，在保证线路状 态不变的情况下，可消除分布电容和杂散电容的影响。 四、电桥法 对于有损耗的电容器，在其