表面增强拉曼基片均匀性测定拉曼成像分析法实例.pdfVIP

GB/T XXXXX—XXXX A A 附 录 A （资料性附录） 表面增强拉曼基片均匀性测定 拉曼成像分析法示例 A.1 概述 对于表面增强拉曼基片均匀性的测定，可通过拉曼成像分析法在规定区域内至少100个不同位置处 获取拉曼信号，利用统计分析获得信号的分布特性，进而推算出拉曼增强基片的均匀性。增强拉曼基片 均匀性的测定过程主要包括样品准备、表征步骤、数据处理、均匀性计算，可按如下步骤实施。 A.1.1 样品准备 用分析天平称取4,4-联吡啶（BiPy ）粉末15.6 mg，加入100 mL 乙醇，用300 W超声分散仪器超声5 s，得到1mmol/L的BiPy 乙醇溶液。 将SERS增强基片浸没于少量上述BiPy标准溶液中10分钟，取出，用乙醇冲洗后氮气吹干，待检。 A.1.2 表征步骤 根据JJF 1544-2015 拉曼光谱仪校准规范对激光共聚焦显微拉曼仪进行校准。将拉曼测试设置为成 像模式，选择在聚焦清晰的1 cm×1 cm矩形样品测试区域，设置扫描方向X 的步长为1 mm，扫描方向Y 的步长为1 mm，激光波长为785 nm，功率为0.3 mW ，积分时间为1s，积分次数为1。测试并保存原始数 据。 若测量更大区域内的均匀性，可测定多块小区域，通过拼接获得整体均匀性数据。 A.1.3 数据处理 A.1.3.1 利用软件NGSLabSpec导入SERS测量原始文件，文件类型为txt ，如图A.1 。 6 GB/T XXXXX—XXXX 图A.1 NGSLabSpec 软件导入SERS 检测原始文件 A.1.3.2 利用软件对所选样品进行背景扣除操作，可减少荧光等光致发光的影响。具体操作如下，点 击Baseline 图标，在弹出的操作界面内，选择Auto ，进行自动背景扣除并保存结果。 图A.2 扣除图像背景的操作图 A.1.3.3 利用软件的Peak功能，所测光谱中自动找到样品的特征峰，如图 A.3 ，同时软件能自动获得 这些特征峰的峰面积，如图 A.4 ，选取特征峰信噪比较好，峰形分布较好的特征峰，记录其峰面积。 图A.3 特征峰选取操作图 7 GB/T XXXXX—XXXX 图A.4 特征峰面积读取 A.1.3.4 利用origin软件分别对所有谱图相同特征峰的峰面积进行统计，以峰面积的平均值为1进行归 一化，随后获得相对峰面积的强度分布。 图A.5 利用origin 软件获得特征峰相对面积分布 图A.6 SERS 增强基片在所选区域的均匀性数据获得 8 GB/T XXXXX—XXXX A.1.3.5 以峰面积的平均值为中心，向两端选取相同的区间，使得占总数95%的谱峰落入此区间，所 取