手机磁铁检验标准.docxVIP

手机磁铁检验标准 1. 目的 制定本公司的检验标准和试验方法，确保本公司所有手机磁铁类材料能满足研发设计、生产装配以及用户的使用要求。 2. 适用范围 本规程适用于本公司所有手机磁铁类材料的检验。 注：若新产品不断出现或本标准中的项目涉及不到，应根据公司要求在本标准中加入未涉及到的项目或修正本标准。 3. 缺陷类别定义 A类严重缺陷（Critical Defect）：产品存在对使用者的人身及财产安全构成威胁的缺陷。 B类重缺陷（Major Defect）：产品存在下列缺陷，为主要缺陷。 功能缺陷影响正常使用； 性能参数超出规格标准； 导致客户拒绝购买的严重外观缺陷； 包装存在可能危及产品形象的缺陷。 C类次要缺陷（Minor Defect）：不影响产品使用，最终客户有可能愿意让步接受的缺陷。 4. 检验条件及环境 在自然光或60W-100W（照度达600～800Lux）冷白荧光灯照明条件下检验； 观察距离:300－350mm ； 观察角度:水平方位45°±15°； 检验时按正常要求的距离和角度扫描整个被检测面:10S±5S； 检验人员裸视或矫正视力1.0以上，不能有色盲、色弱者。 5. 抽样标准 抽样检验依GB2828-2003标准，取一般检验水平Ⅱ。 AQL：A类缺陷为0， B类缺陷为0.65， C类缺陷为1.5 。 特殊项目（尺寸、可靠性）抽样方案为：