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其他显微分析方法 一、以下分析方法的名称解释（原理也行）、英文简写、适用范围 1、离子探针分析仪（IMA）--表层成分分析 2、低能电子衍射（LEED）-表层物相分析 3、俄歇电子能谱分析（AES）-表层成分分析、剥层成分分析（类似电子探针的线扫描） 图16-9,16-10，确定俄歇谱仪如何根据不同原子序数选择电子进行测试 4、场离子显微镜和原子探针（（FIM）-表面原子的排列图像，在材料中用来分析：点缺陷的直接观察，位错，晶面缺陷等 5、扫描隧道显微镜（STM）-导体表面形貌分辨率可达nm级别与原子力显微镜（AFM）-测量导体、绝缘体表面形貌，还可测量表面原子间的力，测量表面的弹性、塑性、硬度、粘着力、摩擦力等 6、 X射线光电子能谱仪XPS-表面成分和化学态的分析 二、热分析 1、热分析定义：热分析是在程序控制温度下，测量物质的物理性质与温度或者之间关系的一类技术 2、分类： 1）差热分析（DTA）：在程序控制温度条件下，测量试样与参比物之间的温度差 与 温度或时间 的关系的技术。应用：定性分析，相图制作。仪器核心是热电偶，切记！ 差热分析原理就是热电偶原理，需要记住。 2) 差示扫描量热法(DSC):在程序控制温度下，测量输入到试样和参比物的功率差与温度或时间的关系的一种技术。 应用：定性、定量都可以，图形和DTA相反。 原理需要知道 3）热重法(TG)：是在程序控温下，测量物质的质量与温度或时间的关系的方法。应用：材料分解，定性分析等。 4）热膨胀分析法（TD）就是在程序控制温度下，测量物质在可忽视负载荷下的尺寸随温度变化的一种技术。应用：测试热膨胀系数