第14章射频电路与系统测试技术无线通信射频电路技术.pptVIP

教学 重点 本章重点介绍了射频电路测量的基本设备及其功能；介绍了常用的定标及误差校准技术；介绍了几种参数的测试方法：S参数的测试方法，频率测试技术，相位噪声测试技术，功率特性测试技术；介绍了器件的温度特性测试技术发展情况。 教学 重点 教学 重点 掌握：常用的定标及误差校准技术；S参数的测试方法,频 率测试技术，相位噪声测试技术，功率特性测试技 术 。 了解：器件的温度特性测试技术的发展情况。 熟悉：射频电路测量的基本设备及其功能。 能力 要求 第一页，共三十三页。 本章目录 第一节 基本测试设备 第二节 频率特性测试技术 第三节 噪声特性测试技术 第四节 功率特性测试技术 第五节 温度特性测试技术 第二页，共三十三页。 知识结构 射 频 电 路 与 系 统 测 试 技 术 基本测试设备 信号源 频谱分析仪 矢量网络分析仪 频率特性测试技术 噪声特性测试技术 功率特性测试技术 计数法 测量系统的三阶截断点的方法 直接测量法 鉴相器法 鉴频器法 微波功率测量方法 功率测量中的误差 温度特性测试技术 噪声系数分析仪 外差法 低温测量 第三页，共三十三页。 §14.1 基本测试设备 14.1.1 信号源 信号源是能够产生射频/微波测试信号的装置，其核心部件是振荡器或频率合成器。按应用要求，信号源可以分为简易微波信号源、标准微波信号源、点频微波信号源和扫频微波信号源。 1. 简易微波信号源与标准微波信号源产生输出频率、输出电平和调制系数都能调节的信号，且能够准确读数，并对信号的泄漏有严格要求。 2. 标准信号源在简易微波信号源的基础上，增加了一个定标衰减器模块。 3. 扫频微波信号源的输出频率可以在指定范围按一定的频率步进周期性变化（即为扫频）。 4. 点频微波信号源按点频方式工作，一次只能输出单一频率的微波信号，而对应的测量方法称为点频测量法。 第四页，共三十三页。 §14.1 基本测试设备 14.1.2 频谱分析仪 对于射频信号，由于频率很高，无法直接用时域测量仪器进行测量，只能将时域信号经过傅氏变换，变为频域信号来分析其频谱。供测量信号频谱的仪器称为频谱分析仪。频谱分析仪可以用于显示所测量信号的电压、波形、功率、周期、频率以及旁频带。 频谱分析仪面板 第五页，共三十三页。 §14.1 基本测试设备 频谱分析仪的核心是混频器，基本功能是将被测信号下变至中频，然后在中频上进行处理，得到幅度。在下变频的过程中，是由本振来实现下变频的。本振信号是扫描的，本振扫描的范围覆盖了所要分析信号的频率范围，所以调谐是在本振中进行的。全部要分析的信号都下变频到中频进行分析并得到频谱。 频谱分析仪的基本结构框图 第六页，共三十三页。 §14.1 基本测试设备 14.1.3 矢量网络分析仪 矢量网络分析仪是全面测量网络参数的高精度、智能化仪器，能快速、精确地测量有源器件和无源器件的特性，例如放大器、混频器、双工器、滤波器、耦合器、衰减器和移相器等无源和有源电路。 1. S参量的测量 在测量、建模和设计多元件的复杂系统中，器件的S参数特性起着关键的作用。矢量网络分析仪能方便快捷的测量出被测器件的四个S参量。网络分析仪通常有1个输出端口，该端口可以通过内部信号源或外接信号源输出射频信号，另外还有3个分别标为R,A和B的测量通道，其结构如图所示。 第七页，共三十三页。 §14.1 基本测试设备 射频源通常是覆盖特定频段的扫频源。测量通道R用于测量入射波，同时也作为参考端口。通道A和B通常用于测量反射波和传输波。测量通道A和B可以同时测量任意两个S参量元素。此时， 和 的数值可以分别通过计算A/R和B/R的比值得到。若要测量 和 ，则必须将待测元件反过来连接。 利用网络分析仪测试S参数的实验系统 第八页，共三十三页。 §14.1 基本测试设备 2. 测量误差及分析方法 使用矢量网络分析仪测量待测器件（DUT）的S参数时，测量误差由三部分组成：系统误差，随机误差和漂移误差。