东营集成电路测试设备项目申请报告_模板参考.docx

泓域咨询/东营集成电路测试设备项目申请报告  东营集成电路测试设备项目 申请报告 xx（集团）有限公司  报告说明 随着物联网、云计算、人工智能、新能源汽车等领域新型应用终端的涌现，对低功耗、低成本、小尺寸芯片的需求大大上升，高性能SoC以及采用SiP封装工艺的芯片逐渐成为市场主流。SoC通过嵌入中央处理器、存储器以及外围电路等达到高效集成的性能表现。SiP工艺通过在封装环节堆叠、整合各种不同的芯片来扩充其功能。SoC以及SiP封装工艺都给芯片测试带来了新的挑战。高端SoC的结构极其复杂，必须针对性的开发测试方案，验证各个功能的有效性。SiP工艺中封装芯片数量较多，找出个别不良芯片的难度