组合电路测试方法.pptxVIP

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  • 2022-10-19 发布于上海
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会计学;基本数字逻辑门的输出可控制性:;基本数字逻辑门的输出可控制性(续):;基本数字逻辑门的可观测性:;基本数字逻辑门的可观测性:;对于下图中电路,计算组合SCOAP可测试性度量(可控制性和可观测性)。 要求:标出门的级数,列出计算公式。;2021/5/31;2021/5/31;第二章 组合电路测试生成;自动测试矢量生成(ATPG) 是为测试电路而生成测试矢量的过程,其中电路是用逻辑级网表(电路图)严格描述的。 ATPG算法具有多重目的: 可以生成电路的测试矢量, 可以发现冗余或不必要的电路逻辑?? 可以证明一个电路实现是否与另一个电路实现匹配。;Eldred (1959) – 第一次将结构测试应用于Honeywell Datamatic 1000 计算机 Galey, Norby, Roth (1961) – 第一次发表stuck-at-0 and stuck-at-1 故障 Seshu Freeman (1962) – 用于并行故障模拟的固定故障模型 Poage (1963) – 给出固定故障的理论分析;图1 64位加法器: 功能测试和结构测试(固定故障) ;(b) 进位部分 ;功能ATPG –为电路的输入-输出组合生成完备测试集. 129输入, 65输出(64位加法器) 2129 = 680,564,733,841,876,926,926

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