《高分子材料分析技术》配套教学课件.pptVIP

1.1光学显微术 (OM) 1.2透射电子显微术 (TEM) 1.3扫描电子显微术 (SEM) 1.4高分子材料的制样方法 1.5电子显微镜的应用 第12章 显微分析法 * 光学显微镜(OM)： 光源光束经玻璃透镜放大成像 透射电子显微镜(TEM)： 光源电子束经电磁透镜放大成像 按成像原理划分 * 扫描电子显微镜(SEM) ： 扫描探针为电子束 扫描激光共聚焦显微镜(SLCM): 扫描探针为激光束 扫描隧道显微镜(STM)： 扫描探针为锐利的钨针尖 原子力显微镜(AFM)： 扫描探针为连接在灵敏的微 悬臂上的锥形针尖 * 1.1光学显微术 (OM) 理想几何光学 影响光学透镜分辨率的因素 光学显微镜及光学参数 光学显微镜的应用 正置与倒置显微镜 明(暗)视野显微镜 偏光显微镜 相衬显微镜 微分干涉差显微镜 荧光显微镜 共聚焦显微镜 *