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表面分析方法;7、2、 光电子能谱法;物质受光作用释放出电子得现象称为光电效应。 光电离作用: 光子得能量: ; 电子能谱法所能研究得信息深度d取决于逸出电子得非弹性碰撞平均自由程λ。 所谓平均自由程(电子逸出深度)就是指电子在经受非弹性碰撞前所经历得平均距离。电子平均自由程λ与其动能大小与样品性质有关,金属中为0、5 ～ 2 nm,氧化物中为1、5 ～ 4 nm,有机与高分子化合物中为4 ～ 10 nm。一般认为d =3λ。 电子能谱得取样深度一般很浅,在30 nm以内,就是一种表面分析技术。; 瑞典Uppsala大学Siegbahn K M(1981年诺贝尔物理学奖获得者)及其同事建立得一种分析方法。 理论依据就是Einstein得光电子发射公式(光电效应),实际分析中,不仅用XPS测定轨道电子结合能,还经常用量子化学方法进行计算,并将两者进行比较。 由于各种原子、分子得轨道电子结合能就是一定得,XPS可用来测定固体表面得电子结构与表面组分得化学成分,因此,XPS又称为化学分析光电子能谱法(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis,ESCA)。;7、2、2、1、电子结合能;7、2、2、2、 X射线光电子能谱图;7、2、2、3、 谱峰得物理位移与化学位移;7、2、3、 紫外光电子能谱法;7、2、3、2、 紫外光电子能谱图;7、2、4、 俄歇电子能谱法;大家有疑问的，可以询问和交流;7、2、4、2、 Auger电子产额;7、2、4、3、 Auger电子峰得强度;7、2、4、4、 Auger电子得能量;7、2、4、5、 Auger电子能谱;7、2、4、5、 Auger电子能谱;7、2、5、 电子能谱仪;7、2、5、1、 激发源;7、2、5、2、单色器—电子能量分析器;7、2、5、2、单色器—电子能量分析器;7、2、5、2、单色器—电子能量分析器;7、2、6、电子能谱法得应用;7、2、6、2、 X射线光电子能谱法得应用;7、2、6、2、 X射线光电子能谱法得应用;7、2、6、2、 X射线光电子能谱法得应用;7、2、6、2、 X射线光电子能谱法得应用;7、2、6、3、 紫外光电子能谱法得应用;7、2、6、4、 Auger电子能谱得应用;7、3、 二次离子质谱法;7、3、2、 二次离子质谱仪;7、4、 扫描隧道显微镜与原子力显微镜;7、4、2、 仪器装置