全光纤电流互感器 超辐射发光二极管组件.pdfVIP

全光纤电流互感器 超辐射发光二极管组 1 范围 本文件规定了全光纤电流互感器用超辐射发光二极管组件的分类、技术要求、试验方 法、检验规则和包装、运输以及贮存。 本文件适用于新制造的全光纤电流互感器用八针蝶形封装结构的超辐射发光二极管组 件（以下简称“SLD 组 ” ）。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日 期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包 括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 1804-2000 一般公差 未注公差的线性和角度尺寸的公差 GB/T 2423.1-2008 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 A ：低温 GB/T 2423.2-2008 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 B ：高温 GB/T 2423.23-2013 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 Q ：密封 GB/T 2423.34-2012 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 Z/AD ：温度/湿度组合循环试验 GB/T 4937.3-2012 半导体器 机械和气候试验方法 第 3 部分：外部目检 GB/T 4937.12-2018 半导体器 机械和气候试验方法 第 12 部分：扫频振动 GB/T 4937.14-2018 半导体器 机械和气候试验方法 第 14 部分：引出端强度(引线牢固 性) GB/T 4937.19-2018 半导体器 机械和气候试验方法 第 19 部分：芯片剪切强度 GB/T 4937.21-2018 半导体器 机械和气候试验方法 第 21 部分：可焊性 GB/T 4937.22-2018 半导体器 机械和气候试验方法 第 22 部分：键合强度 GB/T 15972.31-2021 光纤试验方法规范 第 31 部分：机械性能的测量方法和试验程序 抗 张强度 GB/T 31358-2015 半导体激光器总规范 GB/T 36361-2018 LED 加速寿命试验方法 QJ 908B-2012 电子产品老炼试验方法 SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法 SJ 20785-2000 超辐射发光二极管组件测试方法 YD/T 1687.1-2007 光通信用高速半导体激光器组件技术条 第 1 部分：2.5Gb/s 致冷型 直接调制半导体激光器组 IEC 60749-8-2003 半导体器 机械和气候试验方法 第 8 部分：密封 IEC 60749-10-2022 半导体器 机械和气候试验方法 第 10 部分：机械冲击 IEC 60749-25-2003 半导体器 机械和气候试验方法 第 25 部分：温度循环 IEC 60749-26-2018 半导体器 机械和气候试验方法 第 26 部分：静电放电敏感性(ESD) 测试 人体模型(HBM) 3 术语和定义 GB/T 31358-2015、SJ 20785-2000、SJ/T 11394-2009、SJ/T 2749- 2016、YD/T 1687.1- 2007 3 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 超辐射发光二极管组件 superluminescent diode module 由超辐射发光二极管、热稳定装置和/或输出光功率的监控装置和尾纤/缆等组成的组件。 3.2 中心波长 central wavelength λc 在 SLD 组件的发射光谱中，光功率最大值的一半处所对应的上升沿和下降沿最大宽度 的中心对应的波长。 3.3 热电制冷器 thermo-electric cooler TEC 一种通过改变工作电流极性及大小，实现制热或制冷功能的半导体热电元件。 注：主要目的是实现 SLD 组件的温度控制。 3.4 -3 dB 谱宽 -3 dB spectral bandwidth Δλ 在规定的工作条件下，