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一种集成电路用长寿命测试探针.pdfVIP

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  • 2022-12-03 发布于四川
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一种集成电路用长寿命测试探针.pdf

    本实用新型公开一种集成电路用长寿命测试探针。涉及电路测试设备技术领域。包括探针本体，所述探针本体的顶部固定有连接座，所述连接座的侧壁固定有滑块，所述滑块中贯穿有导向杆，所述导向杆的顶部固定在保护罩的内壁，所述连接座的侧壁固定有连接板。该集成电路用长寿命测试探针，当对探针本体使用结束后，通过向上移动连接板，可以使连接板带动连接座和探针本体移进保护罩内，通过第二限位槽和限位机构的配合，可以使探针本体固定在保护罩内，进而可以起到保护探针本体的效果，防止探针本体在不使用时，因探针本体露在外面可能会不小心

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 217931768 U (45)授权公告日 2022.11.29 (21)申请号 202221915308.5 (22)申请日 2022.07.25 (73)专利权人 先得利精密测试探针（深圳）有限

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