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数字超大规模集成电路设计 (67).pdf

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6.3.3 L(di/dt) 21 L di/dt VDD L i(t) V ’ DD V Vin out CL 寄生电感的一个重要来源是压焊线和芯片封 装引起的。可达到nH量级。 GND ’ 导线越长寄生电感越大。 L 22 寄生电感对电源电压和地线的影响: • 电流变化导致电压变化 电压变化的大小与电路切换的速度和电流的大小有关。 23 解决Ldi/dt问题的方法 把I/O pad和芯片内核电路的电源引脚分开。 增加片外信号的上升和下降时间到所允许的最大 值。 - 最好的驱动器是在输出端具有最大允许的上升和下 降时间,并满足所规定的延时 安排好消耗大电流的翻转使它们不会同时发生。 - 同步电路的电路翻转比较集中,大部分在时钟沿处 - 采用异步电路可以分散电路翻转的时间,降低最大电 流 24 解决Ldi/dt问题的方法 Bonding wire 减小寄生电感 Chip L • 采用多组电源地引脚(多个寄生 Mounting 电感并联)。 cavity Lead • 仔细选择封装中电源地引脚的位 L ´ frame 置。 Pin 25 解决Ldi/dt问题的方法 Bonding wire Chip L Mounti

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