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数字化X射线透视摄影装置性能检测方法 性能检测所需设备与用具 所需设备与用具应包括： 多功能X射线剂量仪； 铅块、铅板； 以下测试模体： 摄影高对比度分辨力测试卡； 摄影低对比度分辨力测试模体； 透视高对比度分辨力测试卡； 透视低对比度分辨力测试模体； 水模。 性能检测方法 管电压指示的偏离 确保设备完成X射线管预热，并设置摄影模式。 设置检测几何条件：SID选择100 cm或最接近的SID值，设置光野范围为10 cm×10 cm，中心线束与探测器垂直。 检测仪探头置于射线中心位置并将铅板放置在探头下方用于保护探测器。 设置临床常用管电流时间积，对60 kV、80 kV、100 kV各档或最接近档进行测量，每档测量3次。 根据式(A.1)计算管电压测量的平均值与管电压预设值的相对偏差。 Ev=Vi-V0V 式中： EV ——管电压测量值与设定值的相对偏差，% Vi ——管电压测量的平均值，单位为千伏（kV） V0 ——管电压设置值，单位为千伏（kV） 辐射输出量重复性 确保设备完成X射线管预热，并设置摄影模式。 几何条件与A.2.1.2条件保持一致。 检测仪探头置于射线中心位置并将铅板放置在探头下方用于保护探测器。 设置管电压为80 kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过。以相同条件曝光测量5次并记录，其中空气比释动能在检测仪上读取，曝光管电流时间积在设备上读取，两者相除得到每次输出量的测量值。 根据式（A.2）计算出辐射输出量重复性。 CV=1KKi-K2n-1 式中： CV ——变异系数，%； K ——多次输出量测量值的平均值，单位为毫戈瑞每毫安秒（mGy/mAs）； V0 ——管电压设置值，单位为千伏（kV） 有用线束半值层 确保设备完成X射线管预热，并设置摄影模式。 几何条件与A.2.1.2条件保持一致。 将检测仪探头置于射线中心位置并将铅板放置在探头下方用于保护探测器。 设置管电压为80 kV或最接近档，常用的曝光管电流时间积，无附加滤过，进行曝光，在检测仪上直接读取半值层值。 摄影残影 确保设备完成X射线管预热，平板探测器处于正常工作温度，并设置摄影模式。 如果有可能移除滤线栅，设置SID为180 cm（达不到则设置最大）。 打开遮光器将剂量仪探头放于影像接收器外壳或者诊断床上照射野中心，调整X射线中心线束与剂量仪表面垂直，并在影像接收器中心剂量计上方放置一4 cm×4 cm×4 mm的铅块。 设置曝光条件为70 kV，1 mmCu滤过，不同mAs条件下曝光，记录入射空气比释动能为1 μGy与5 μGy时的mAs条件。 关闭遮光器，取走铅块和剂量计，用15 cm×15 cm×2 mm铅板完全挡住遮光器出束口，使用最低管电压与最低管电流进行第1次曝光，获得空白图像。 打开遮光器，取走铅板，在影像接收器中心放置一4 cm×4 cm×4 mm的铅块，设置曝光条件70 kV、1 mmCu滤过和入射空气比释动能为5 μGy时的mAs，此时进行第2次曝光，获得第2幅图像。 设置曝光条件70 kV、1 mmCu滤过和入射空气比释动能为1 μGy时的mAs，此时进行第3次曝光，此次曝光应在第2次曝光后1.5 min内完成，获得第3幅图像。 调整合适的窗宽窗位，在显示器上观察第3幅图像中不应该看到第2次曝光的图像残影，如果存在残影，在残影区与非残影区勾画相同大小的感兴趣区域，并分别计算相应区域平均像素值，比较残影区域平均像素值与非残影区平均像素值误差。 摄影高对比度分辨力 确保设备完成X射线管预热，并设置摄影模式。 如果有可能移除滤线栅，设置SID为100 cm或最接近的SID值。 将高对比度分辨率卡置于探测器表面中心，并呈45°放置。 选择摄影条件60 kV，约3 mAs或合适的条件进行曝光。 调整窗宽窗位，使分辨力最优化，从显示器上读出最大线对数。 摄影低对比度分辨力 确保设备完成X射线管预热，并设置摄影模式。 如果有可能移除滤线栅，根据选用低对比度分辨力模体使用说明书，选择管电压，适当的滤过和SID（通常选为100 cm或最接近的SID值）。 把检测仪探头放置在检查床表面位于探测器中心区域，选择合适的管电流时间积，使得床面入射空气比释动能约为5 μGy。 使用上一步确认的曝光条件进行曝光（或使用自动曝光模式）。 根据在临床上对影像最常使用评价方式观察影像，调节窗宽和窗位使每一细节尺寸为最优化，在监视器上观察影像细节，并进行记录。 透视受检者入射体表空气比释动能率典型值 确保设备完成X射线管预热，并设置透视模式。 如果为下球管机器，将剂量仪放置于床上，SID设置为最小，影像接收器距离床面30 cm，并将30 cm×30 cm×20 cm水模放置与剂量仪探头与影像接收器之间；如果为上球管机器，将剂量仪放置于床上3