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正确理解测量系统的再现性 在老版MSA 手册中，测量系统的再现性被定义为 用不同评价人使用相同的测量仪器“ 对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差 （Variation）”，因为这个定义，再现性用 AV （Appraiser Variation）表示。新版 （第三版，2002 年 3 月发布）MSA 手册参考了 ASTM （美国材料试验学会）对测量 系统再现性的定义，明确了测量系统的再现性是指测量的系统之间或条件之间的平均 值变差（Variation）。按照这个新的定义中， 测量系统的再现性所考察的是不同测量 系统之间或不同测量条件之间的测量平均值变差。测量系统并非只包括测量设备，而 是包括人（评价人）、机（测量设备）、料（测量基准件）、法（测量方法）、环 （测量环境）以及测量标准等因素。因此，同一评价人用不同的测量仪器对同一产品 上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差也是属于测量系统的再现性范畴。 TS16949 中条款 7.6.1测量系统分析要求对每种测量和试验设备系统得出的结果中出 现的变差进行统计研究，也就是进行测量系统分析。这里要求进行的分析是针对测 量系统的。 案例：某工厂生产线束，其中有道工序是在压接机上压接线束的端子，生产车间有多 台压接机进行线束端子的压接。端子的压接高度是一个重要的过程特性。为此，每台 压接机都专门配备了数显式千分尺进行测量。在这个典型的案例中，我们到底应如何 策划测量系统的分析呢？ 在本案例的生产条件下，每台压接机中配备的千分尺与测量人员、测量标准件、测量 方法、测量环境就构成了一个测量系统，但这些测量系统属于同一种类的测量系统。 按 TS16949 的要求，我们选取一台压接机上配备的千分尺所构成的测量系统做分析 似乎就可以了，但其它压接机上的千分尺构成的测量系统一定能保持与这个已研究的 测量系统同样的状态吗？答案显然是否定的，但对每个具体设备构成的测量系统都做 测量系统分析很多时候不太现实，而且可能成本很高、时间很长。在这个案例的测量 系统中，影响测量系统重复性和再现性的因素主要是评价人和测量设备，同一测量设 备的重复性和不同评价人之间的再现性我们可在对某台压接机的测量系统进行分析时 予以评价。那么接下来，我们可以利用同一个评价人使用不同的测量设备（如：千分 尺）对同一产品的同一特性进行测量，来评价不同测量设备的再现性（即不同测量设 备之间测量平均值的变差），如果分析的结果满足测量系统重复性和再现性的判定 准则，则我们完全有理由相信这类测量系统的重复性和再现性是能满足测量要求的。 归结来讲，对同一种类的测量系统进行重复性和再现性分析时，需要做三种类型的分 析： 同一评价人用相同的测量仪器对同一产品上的同一特性进行分析（同一评价人与同 1. 一测量设备的重复性）； 不同评价人用相同的测量仪器对同一产品上的同一特性进行分析（基于评价人的再 2. 现性）； 同一评价人用不同的测量仪器对同一产品上的同一特性进行分析（基于测量设备的 3. 再现性）。 根据上述分析，可分别计算分析 1 和分析 2、分析 1 和分析 3 两种类型的 GRR ， 以此来判定测量系统是否合适。