一种集成电路测试装置.pdfVIP

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  • 2023-03-02 发布于四川
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本实用新型公开了一种集成电路测试装置,包括测试箱,所述测试箱的一侧外壁设置有箱门,且箱门的一侧外壁设置有观察窗,所述测试箱的一侧外壁通过螺栓螺接有控制箱,所述测试箱顶部外壁通过螺栓螺接有声光报警器,所述测试箱顶部内壁通过螺栓螺接有检测箱,所述测试箱的两侧内壁通过螺栓螺接有隔板,所述隔板顶部外壁的两侧均滑动连接有滑动块,且两个滑动块的两侧外壁均开设有螺纹孔,两个所述螺纹孔的内壁螺接有同一个螺杆。本实用新型通过在测试箱内设置滑动块,通过两个滑动块方便对测试电路板进行支撑,同时配合两个夹紧板方便对电路

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213069085 U (45)授权公告日 2021.04.27 (21)申请号 202022134583.0 (22)申请日 2020.09.25 (73)专利权人 深圳市万德兴隆电子有限公司

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