一种锡球阵列晶片测试冶具.pdfVIP

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2023-03-06 发布于四川
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一种锡球阵列晶片测试冶具.pdf

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本实用新型涉及芯片的检测设备领域，具体一种锡球阵列晶片测试冶具，包括探针台、下盖板、上盖板、晶片压块、下推块、旋转握把和压块连接件，上盖板和下盖板均为矩形框架结构，所述下盖板固定在探针台上，上盖板的其中一侧边铰接在下盖板上、另一侧边活动连接，下推块嵌在上盖板的中间，晶片压块置于下推块的底部，且通过压块连接件弹性安装在上盖板的底部，压块连接件的下端连接着晶片压块、上端露出上盖板的上平面之上，下推块的表面设有螺纹，旋转握把转动安装在下推块上，压块连接件的上端处于旋转握把的正投影面积之下。该冶具结构避

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218567536 U (45)授权公告日 2023.03.03 (21)申请号 202222772297.6 (22)申请日 2022.10.21 (73)专利权人四川营之星电子科技有限公司地址