计量器具内部校验规范.docxVIP

内部仪器校验规范 1、目的 为了规范本公司仪器管理，确定其精度符合产品检验的需求。 2、范围 适用于本公司电子类仪器，长度类仪器，温度类、重量类仪器的内部校正。 3、职责 品质部仪校员负责执行本规范。 4、内容 4.1校验环境和标准件的储存环境 4.1.1校验环境温度15-25℃，湿度50%-70%， 4.1.2标准件的储存环境15-25℃，湿度≤65%±15%， 4.2 电子类仪器的内校 4.2.1万用表和钳式电流表校验规程。标准器：外校合格的数字式万用表。 4.2.1.1 校验过程 先用数字式万用表测量一组额定电路，再用需校验仪器进行测量，并每次记录，记录在仪器《检测仪器内部校验记录表》,去掉一次最大误差，去掉一次最小误差，再算出平均误差（每一组至少6个电路）。 4.2.1.2 判定 平均误差≤5%则判定合格；平均误差＞5%则判定不合格。 4.2.2 蜂鸣器校验规程 标准器:用外校合格的万用表先测量出一组短路的FPC。 4.2.2.1 校验过程 用蜂鸣器测量短路的FPC。 4.2.2.2 判定 蜂鸣器反应灵敏,尖叫声响亮,则判定合格；蜂呜器反应迟顿,响度太小或无声音,则判断不合格。 4.3 长度类仪器的内校 标准器:外校合格的量块或二次元投影仪。 4.3.1 校验过程（卡尺、千分尺） 4.3.1.1用待校验仪器分别测量:10㎜、20㎜、 41.2㎜、81.5㎜、121.8㎜ 的标准器,并记录测试结果,结果记录在《检测仪器内部校验记录表》。 4.3.1.2 判定 卡尺平均误差≤0.05㎜时则直接判定仪器合格；千分尺平均误差≤0.01㎜时则直接判定仪器合格； 卡尺平均误差＞0.05㎜时则判定不合格；千分尺平均误差＞0.01㎜时则判定不合格。 4.3.1.3如不合格仪器维修后校验仍不合格,则报废处理。 4.3.2 百倍镜校验过程 4.3.2.1 用待校验百倍镜测量一组线路宽度,再用外校合格的二次元测量同一组线路,并计算出平均误差。 4.3.2.2 判定 当误差≤0.02㎜时判定合格;当误差＞0.02㎜时判定不合格 4.3.3 金相显微镜校验过程 4.3.3.1 用金相显微镜测量一组（至少5个）金相切片,再用外校合格的二次元测量同一组金相切片,并计算出误差。 4.3.3.2 判定 当误差≤2.5um时判定合格;当误差＞2.5um时判定不合格。 4.3.4 钢尺校验过程 4.3.4.1 把钢尺放置在二次元台面,测量钢尺从零刻度线到10㎜、20㎜、30㎜刻度线（根据不同量程选取测量尺寸）记录测量结果。 4.3.4.2 判定 当误差≤1㎜时,判定合格;当误差＞1㎜时,判定不合格。 4.4 温度类仪器的内校 标准器:外校合格的数显温度计,分辨力:0.1℃或水银温度计分辨力≤0.5℃。 4.4.1水银湿度计校准过程 4.4.1.1 将水加热使用标准器在水中取点（20 30 40 45 ）℃四个点。 4.4.1.2 将要校准的温度计及标准器同时放入水中，观察标准器20度时要校准的温度计是多少度;30度时要校准的温度计是多少度，40度时要校准的温度计是多少度，60度时要校准的温度计是多少度。将其记下。 4.3.1.3 判定：误差≤1℃则判定合格；误差＞1℃则判定不合格；不合格温度计直接报废处理。 4.4.2 温控器和酒精温度计校验过程与水银温度计校验过程相同,分别取点: 30℃ 50℃ 70℃ 90℃ 4.4.3层压机温控器校验过程 4.4.3.1将标准器探头放入层压机内 4.4.3.2将层压机最高温度分别设定为:140℃ 160℃ 170℃。升温至最高温度并将标准器测量结果和层压机显示温度分别记录在《检测仪器内部校验记录表》。 4.4.3.3 根据记录计算出140℃ 160℃ 170℃三个测试点的平均误差。 4.4.3.4 恒温烙铁和锡炉校验过程参照4.3.3。 4.4.3.5 判定： 误差≤5℃则判定合格；误差＞5℃则判定不合格；不合格时需维修后并校验合格后才可以使用,如仍不合格则报废。 4.4．4 温度类仪器校验时取点可根据仪器用途不同可改变取点温度。 4.5 重量类仪器的内校 4.5.1 天平和电子称校验过程 4.5.1.1 用待校验仪器分别测量:10g 20g 50g 100g 200g的标准硅码, 4.5.1.2 判定 当天平误差≤1g时判定合格;当误差＞1g时判定不合格。 当电子称误差≤0.1g时判定合格;当误差＞0.1g时判定不合格。 4.5.2 如调试后校验仍不合格则报废。 4.6 放大镜和体视镜的特殊内校 仪校员在校验此类仪器时，看下外观是否损坏，性能是否良好即可，若良好则贴内部合格样验标签，若不合格则审情报废处理。 4.7 完成内校后，必须在“计量仪器汇总表”上登记校正日期，并