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一种新型集成电路测试结构.pdfVIP

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  • 2023-03-10 发布于北京
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一种新型集成电路测试结构.pdf

    本实用新型涉及集成电路测试技术领域，公开了一种新型集成电路测试结构，包括测试底座，测试底座的顶面上设有调节丝杠和第一滑杆，调节丝杠上螺接有调节丝杠螺母，测试底座的上方设置有电路板压板，电路板压板的顶面上开设有多条第一滑槽和第二滑槽，多条第一滑槽内均设有夹紧丝杠，夹紧丝杠上螺接有夹紧丝杠螺母，夹紧丝杠螺母上固接有第一滑块，第一滑块上设有第一夹块，多条第二滑槽内均设有第二滑杆，第二滑杆上滑动连接有第二滑块，第二滑块上设有第二夹块，第一滑块和第二滑块通过设置连接块固接在一起；本实用新型具有保证引脚插接

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213423243 U (45)授权公告日 2021.06.11 (21)申请号 202021937403.6 (22)申请日 2020.09.08 (73)专利权人 南京禅生半导体科技有限公司

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