一种适用于芯片检测的全检设备.pdfVIP

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2023-03-21 发布于北京
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一种适用于芯片检测的全检设备.pdf

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本实用新型公开了一种适用于芯片检测的全检设备，属于半导体技术领域。一种适用于芯片检测的全检设备，包括箱体、观光镜、压缩机和驱动电机，压缩机和驱动电机均连接在箱体外壁上，箱体内壁上连接有加强滑杆组、冷热塑胶管和连接板，加强滑杆组外壁上滑动连接有滑动组件，滑动组件输出端连接有气缸，气缸输出端连接有滑动连轴，滑动连轴内壁上连接有第一缓冲组件，连接板顶壁上连接有第一挡板和第二挡板，第一挡板和第二挡板之间连接有导杆，导杆外壁上连接有第二缓冲组件，第二缓冲组件输出端连接有数据测试板；本实用新型结构简单、操作

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213780283 U (45)授权公告日 2021.07.23 (21)申请号 202022708773.9 (22)申请日 2020.11.20 (73)专利权人深圳市歌特科技有限公司