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一种beam和beamlet相结合的递归线特征提取方法 近年来，随着图像处理以及图像识别的发展，人们越来越关注线特征的提取技术，尤其是处理目标物体线特征的提取方法。Beam和Beamlet线索提取方法是目前线特征提取领域研究的重点，它们是一种实际和有效的技术手段，被广泛应用于线索检测和提取领域。为了充分利用Beam和Beamlet线索提取方法，结合递归算法，本文提出了一种改进性的Beamlet和Beam线特征提取方法，可以提高检测效率，减少漏检碰撞，提升检测的精确度。 首先，我们介绍Beam和Beamlet线索提取方法。Beam算法是一种基于连续细化的方法，它是基于轮廓搜索矩阵的不断细化过程，它能在较低空间复杂度下提取逼近轮廓线特征，然而无论是Beam还是Beamlet，它们都是通过比较简单的对比算法提取较长的矩形特征区域。Beamlet算法是Beam的改进版，从体素表示的角度来将图像进行分割，提取出更精细的边缘和轮廓特征，但由于它的缺陷，效果不如Beam算法好。 接下来，我们介绍一种基于beam和beamlet的递归提取线特征的改进方法，这种方法结合了Beam和Beamlet方法，从而提高了轮廓特征提取的准确度，有效解决了Beam和Beamlet算法存在的缺陷。具体而言，该方法首先利用传统的灰度图像均值滤波，去除图像中小的像素点干扰并消除噪声，然后采用Beamlet算法测试待检测区域中两点之间轮廓值的差异，如果满足一定的线条特征，则将其添加到主要轮廓线中；否则，使用Beam算法继续细分该主要轮廓线，新生成的次要轮廓线继续采用Beamlet算法进行检测，不断重复此过程，直到所有的轮廓线特征被提取完毕。 最后，该方法推广到现实场景，可以大大提高检测效率，减少漏检碰撞，提高检测精度。