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2023-04-04 发布于北京
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HRTEM晶体图像异常检测技术研究.docx

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HRTEM晶体图像异常检测技术研究 HRTEM晶体图像异常检测技术研究摘要：HRTEM是高分辨率透射电子显微镜技术，可用于观察纳米尺度下的晶体结构、晶格畸变等微观结构细节。然而，由于材料制备或实验条件等各种原因，HRTEM图像会出现各种异常，如缺陷、重叠、噪声等，影响了其应用价值。因此，异常检测技术成为研究热点，旨在自动检测和识别异常，提高图像质量和准确度。本文综述了HRTEM晶体图像异常检测技术研究的发展历程和现状，介绍了常用的异常检测方法和评价指标，并讨论了相应研究方向和挑战。关键词：HRTEM、晶体图像、异常检测、缺陷识别1. 引言在材料科学领域，高分辨率透射电子显微镜（H