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- 2023-04-21 发布于四川
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本发明属于光学成像与检测领域，可用于微纳精密样品表面形貌的快速测量。本发明利用色散共焦和双波长照明，通过公共端光纤提供点光源照明并过滤经样品反射的测量光束，使用波长分光装置分离测量光束中不同波长的光，得到两个照明波长下单光纤色散共焦响应强度值，进而获取样品表面沿测量光束光轴方向的位移信息。采用公共端光纤同时当作照明针孔和探测针孔，无需复杂的共焦光路调整，实现光学系统的自对齐共焦；同时在信号处理过程中利用斜率较大的线性区域来替代传统色散共焦中斜率为零的顶点区域，显著提升探测灵敏度和精度。因此，本发
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113900244 A
(43)申请公布日 2022.01.07
(21)申请号 202111264039.0
(22)申请日 2021.10.28
(71)申请人 绍兴钜光光电科技有限公司
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