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待测对象厚度测量的参数校准因子计算及厚度测量方法.pdfVIP

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  • 2023-04-21 发布于四川
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待测对象厚度测量的参数校准因子计算及厚度测量方法.pdf

    本发明涉及待测对象厚度测量的参数校准因子计算及厚度测量方法。待测对象厚度测量的参数校准因子计算方法用于X射线医疗设备，X射线医疗设备包括X射线发生装置、束光器、X射线接收装置及测距传感器，束光器设置于X射线发生装置前方且测距传感器安装于束光器，该方法包括：将X射线医疗设备的源像距调整到一预设源像距；在预设源像距处，调整测距传感器的安装角度，以保证测距传感器在待测对象接触表面上的感测位置与X射线发生装置产生的X射线中心轴在待测对象接触表面上的位置一致；在预设源像距范围内连续改变源像距，并计算每个选

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113876341 A (43)申请公布日 2022.01.04 (21)申请号 202010629759.1 (22)申请日 2020.07.03 (71)申请人 上海西门子医疗器械有限公司

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