一种集成电路生产后测试装置以及测试方法.pdfVIP

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2023-04-22 发布于四川
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一种集成电路生产后测试装置以及测试方法.pdf

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本发明涉及集成电路测试技术领域，且公开了一种集成电路生产后测试装置以及测试方法，包括主体和底座，所述底座通过引脚与主体连接，所述底座通过紧固螺钉连接有面板，所述底座的顶部设置有移动板，所述移动板通过传动机构连接有锁紧杆，所述面板的顶部开设有凹槽，所述凹槽的内底壁开设有卡槽。该集成电路生产后测试装置以及测试方法，通过主体、底座、引脚、移动板、锁紧杆、面板、凹槽、卡槽、滑动压片、金属压片、移动槽、密封板、通槽、推钮和钮槽之间的相互配合，达到了便于封闭锁紧座上的卡槽，防止灰尘在卡槽内积蓄的效果，解决了

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113945829 A (43)申请公布日 2022.01.18 (21)申请号 202111225024.3 (22)申请日 2021.10.21 (71)申请人深圳市东光长盛科技有限公司