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- 2023-04-23 发布于北京
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本发明公开了一种用于半导体光刻胶的清洗方法,第一步:拆卸机台涂胶部件,在光刻胶周边区域铺上防渗漏高分子材料;第二步:将光刻胶剥离液倒入防渗漏材料圈起范围内以浸润光刻胶,软化表面;第三步:将表面软化的光刻胶去除;第四步:继续软化胶体;第五步:再次将软化的下层光刻胶去除;第六步:使用十六烷基二甲基苄基铵溶液将最底层的光刻胶浸泡擦除;第七步:使用超纯水去除残留化学品;第八步:使用高纯氮气吹扫整个热板部件。本发明主要解决热板上的残留光刻胶的清洗,可将涂胶部件从设备机台拆卸下来,针对涂胶部件上热板区域局部
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113970880 A
(43)申请公布日 2022.01.25
(21)申请号 202111391021.7
(22)申请日 2021.11.23
(71)申请人 江苏凯威特斯半导体科技有限公司
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