2020年塞曼效应实验报告.pdfVIP

塞曼效应实验 李世超 南方科技大学，深圳 一、实验目的 1、观察 Hg 的（546.1nm）谱线在磁场中的分裂现象 2、学习应用塞曼效应测量电子的荷质比和研究原子能级结构的方法 二、实验原理 1.塞曼效应 Hg 5461Å 谱线，由 {6S7S}3S1→ {6S6P}3P2 能级跃迁产生。 （Hg 5461Å 谱线的塞曼分裂能级示意图） 塞曼效应是因为原子受磁场作用而进动引起附加能量，无磁场时的一个能级在 外磁场作用下分裂成 （2J+1）个等间隔的能级。 塞曼分裂谱线有偏振特征，以Hg5461Å的塞曼分裂谱线为例（如图1）：ΔM=0 时 为 π成份（ π型偏振），是振动方向平行于磁场的线偏振光，只有在垂直于磁场方 向才能观察到，平行于磁场方向观察不到；但当ΔJ=0时，M2=0到M1=0的跃迁被禁止。 当ΔM=±1时，为 σ成份，是振动方向垂直于磁场的线偏振光。平行于磁场观察 时，其偏振性与磁场方向及观察方向都有关，具体表现为： 沿磁场正向观察时（即磁场方向离开观察者：U），ΔM= +1为右旋圆偏振光（ σ+ 偏振）， ΔM= -1 为左旋圆偏振光（ σ-偏振）；也即，磁场指向观察者时：⊙，ΔM= +1 为左旋圆偏振光， ΔM= -1 为右旋圆偏振光。 2.F-P 标准具 塞曼分裂的波长差非常小，需用法布里-珀罗标准具 （F-P）来观察。 1 平行光在 F-P 标准具中形成等倾干涉后，各级干涉条纹的光程差为 2dcos θ=K λ 其中 K 为干涉条纹级数，θ为不同干涉级数对应的入射角，d 为 F-P 标准具两平 行玻璃板间距。 F-P 标准具有两个特征参量： （1） 自由光谱范围 包含相差不远的两类波长 λ λ 的单色光入射经过标准具后可能形成如图 2 1 2 所示的两套等倾干涉条纹。当标准具的间距满足方程 2dcos θ=K λ= (K-1) 1 λ 时，两套干涉条纹将重叠，在临界值 Δλ= λ- λ 内，不会有重叠现象， 2 1 2 因此 Δλ被称为标准具的自由光谱范围。在大多数情况下， ， ，则 ，用波数差表示为 。 （2） 分辨本领 分辨本领定义为： 其中 K 为干涉级数，R 为平板玻璃内表面的反射率，一般 R 90%，K 三、实验内容 1、调节光路共轴 2 图3 塞曼效应实验装置 (1)、点燃汞灯，按照图 3 调节实验装置共轴 （通过目镜图像观察，图像清晰即可）。 (2)、 用 d=5mm 的F-P 标准具，调节其到最佳分辨状态。即要求F-P 标准具两个镀 膜面完全平行。此时用眼睛直接观察 F-P 标准具，当眼睛上、下、左、右移动时，圆环 中心没有吞吐现象(备注：9206 端口对应的仿真实验默认已调节好，不必额外调节)。 2、 垂直于磁场方向观察塞曼分裂，并区分σ成分和π成分。 (1)、将电磁铁电压由 0 逐