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实验 2 组合逻辑电路（半加器全加器及逻辑运算） 一、实验目的 掌握组合逻辑电路的功能测试。 验证半加器和全加器的逻辑功能。 学会二进制数的运算规律。 二、实验仪器及材料 Dais 或 XK 实验仪 万用表 一台 一台 3.器件： 74LS00 三输入端四与非门 3 片 74LS86 三输入端四与或门 1 片 74LS55 三、预习要求 四输入端双与或门 1 片 预习组合逻辑电路的分析方法。 预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 学习二进制数的运算。 四、实验内容 组合逻辑电路功能测试。 图 2－1 ⑴用 2 片 74LS00 组成图 2－1 所示逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 ⑵图中A、B、C 接电平开关，Y1、Y2 接发光管显示。 ⑶按表 2－1 要求，改变A、B、C 的状态填表并写出Y1、Y2 逻辑表达式。 ⑷将运算结果与实验比较。 输 入 表 2－1 输 出 A B C Y1 Y2 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 实验过程及实验图： 1）连线图： 实验图： 实验总结： 用两片 74ls00 芯片可实现如图电路功能 测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y 是 A、B 的异或，而进位 Z 是 A、B 相与， 故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2－2。 图 2－2 ⑴ 在实验仪上用异或门和与门接成以上电路。A、B 接电平开关S，Y、Z 接电平显示。 ⑵ 按表 2－2 要求改变A、B 状态，填表。 表 2－2 输入端 A B 输出端 Y Z 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 0 0 0 1 （3）实验过程及实验图： 1）管脚图： 2）实验图 2）实验图 （4）实验总结：用异或门（74LS86）和与非门可组成半加器 测试全加器的逻辑功能。 ⑴写出图 2－3 电路的逻辑表达式。 ⑵根据逻辑表达式列真值表。 ⑶根据真值表画逻辑函数SiCi 的卡诺图。 AiBi,Ci-1 01 Ai Bi,Ci-1 0 1 0 0 0 1 01 1 0 11 0 1 10 1 0 Bi Bi,Ci-1 0 1 0 Si= ⑷填写表 2－3 各点状态。 图 2－3 表 2－3 001 0 01 11 10 0 0 1 0 0 1 1 1 Ci= 000 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 1 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 0 0 1 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 Ci- 1 X X Y Z 1 2 X S C 3 i i ⑸按原理图选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表 2－4，并与上表进行比较看逻辑功能是否一致。 表 2－4 Ai Bi Ci-1 Ci Si 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 （6）实验过程及实验图： 1）引脚图： 2）实验图： 2）实验图： （7）实验总结： 3 个 74ls00 芯片可构成全加器 测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能。 全加器可以用两个半加器和两个与门一个或门组成，在实验中，常用一块双异或门、一个与或门和一个非门实现。 ⑴ 画出用异或门、与或非门和与门实现全加器的逻辑电路图,写出逻辑表达式。 ⑵找出异或门、与或非门和与门器件，按自己画出的图接线。接线时注意与或非门中不用的与门输入端接地。 ⑶当输入端 Ai、Bi、Ci－1 为下列情况时，用万用表测量 Si 和 Ci 的电位并将其转为逻辑状态填入表 2－5。 表 2－5 输 Ai 0 0 0 0 1 1 1 1 入 Bi 0 0 1 1 0 0 1 1 端 Ci-1 0 1 0 1 0 1 0 1 输 Si 0 1 1 0 1 0 0 1 出 Ci 0 0 0 1 0 1 1 1 实验过程及实验图： Si=A⊕B⊕C Ci=AB+BC+AC 引脚图： 实验图：实验 3 触发器 实验图： 一、实验目的 熟悉并掌握R－S、D、J－K 触发器的构成，工作原理和功能测试方法。 学会正确使用触发器集成芯片。 了解不同逻辑功能FF 相互转换的方法。二、实验仪器及材料 双踪示波器 一台 Dais 或 XK 实验仪 一台 器件 74LS00 二输入端四与非门 1 片 74