一种芯片化波长标准获取装置及波长测量装置.pdfVIP

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2023-05-07 发布于北京
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一种芯片化波长标准获取装置及波长测量装置.pdf

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本发明公开的一种芯片化波长标准获取装置及波长测量装置，属于长度计量测试领域。本发明公开的一种芯片化波长标准获取装置，由于原子能级是量子化的，其基态能级差是确定不变的，将微腔芯片输出的激光波长锁定至原子基态能级差，因此获得的波长标准具有量子化的精度。本发明公开的一种基于芯片化波长标准的波长测量装置，基于所述一种芯片化波长标准获取装置实现，采用波长标准结合劈尖干涉，将波长的测量直接与量子化的波长标准联系起来，显著提高波长测量的准确性。本发明具有体积小、成本低、可集成的优点。本发明能够很方便的用于各种

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114383740 A (43)申请公布日 2022.04.22 (21)申请号 202111520589.4 (22)申请日 2021.12.13 (71)申请人中国航空工业集团公司北京长城计