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本申请公开了一种坏块表继承方法及其存储装置。坏块表继承方法应用于存储装置的主控芯片且包括以下步骤：对存储装置的存储模块进行扫描检测，以生成原始坏块表，并存储在存储模块的第一存储位置，其中，原始坏块表记录存储模块中每一个平面的坏块信息；以及对存储模块进行低级格式化操作时，读取原始坏块表，并基于存储装置所操作的多平面模式执行自适应继承程序，以生成系统坏块表，并存储在存储模块的第二存储位置，其中，系统坏块表记录多平面模式对应的坏块信息。因此，可保证存储装置损坏不认盘或更新固件时仍可获取原始坏块表，且存
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114385084 A
(43)申请公布日 2022.04.22
(21)申请号 202210034811.8
(22)申请日 2022.01.13
(71)申请人 合肥沛睿微电子股份有限公司
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