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一种用于量测半导体组件的装置，包括控制器、控制器、保护电路、负载电路及切换电路。切换电路电连接于负载电路与保护电路之间。保护电路的输入阻抗大于切换电路开启时的阻抗。保护电路的输入阻抗小于切换电路关闭时的阻抗。控制器经组态以在第一时间点提供第一控制讯号至半导体组件及在第二时间点提供第二控制讯号至切换电路。半导体组件藉由第一控制讯号开启。切换电路藉由第二控制讯号开启。第一时间点早于第二时间点，使得半导体组件的开通时间点早于切换电路的开通时间点。切换电路的开通状态的维持时间与半导体组件的开通状态的维持
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114414977 A
(43)申请公布日 2022.04.29
(21)申请号 202210062968.1 G01R 1/36 (2006.01)
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