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- 2023-05-11 发布于四川
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本发明涉及低频弱磁环境下高导磁材料磁特性测试装置,包括:线圈组、磁特性测试仪、磁屏蔽筒以及上位机;所述线圈组缠绕在被测样件上并与磁特性测试仪相连,缠绕有线圈组的被测样件放置在磁屏蔽筒内;所述磁屏蔽筒为被测样件提供弱磁环境;所述磁特性测试仪,用于对所述线圈组提供励磁电流以及检测所述被测样件的感应电压,并将测得数据传输至上位机;所述上位机,用于获取磁特性测试仪测试出的数据并绘制得出磁化曲线。本发明的技术方案解决了现在磁性材料磁特性测试装置无法获取高导磁材料低频弱磁环境下的磁导率问题,从而提高磁屏蔽装
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114578273 A
(43)申请公布日 2022.06.03
(21)申请号 202210173963.6
(22)申请日 2022.02.24
(71)申请人 北京航空航天大学
地址 10019
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