一种基于Web的芯片测试及调试系统.pdfVIP

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  • 2023-05-11 发布于四川
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本发明公开了一种基于Web的芯片测试及调试系统,包括调试芯片,所述调试芯片连接被测试芯片,所述调试芯片通过网络连接到Web浏览器,通过所述Web浏览器发送Http请求给调试芯片;所述调试芯片接收解析Web浏览器发送的Http请求,所述调试芯片解析Http请求并转化为JTAG命令下发至被测试芯片,所述被测试芯片执行JTAG命令并返回执行结果给调试芯片,所述调试芯片将执行结果转化为Html格式发送至网络并通过Web浏览器查看。本发明通过Web浏览器经网络连接调试芯片实现远程调试,实现多种型号的测试芯

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114579384 A (43)申请公布日 2022.06.03 (21)申请号 202210212787.2 (22)申请日 2022.03.04 (71)申请人 管芯微技术(上海)有限公司 地址

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