一种双面下针设备.pdfVIP

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  • 2023-05-11 发布于四川
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本发明属于电路板测试技术领域,公开了一种双面下针设备,能够同时对工件的两面进行测试。该双面下针设备包括支架、下针模组和上针模组。其中,下针模组包括下框架、下探针装置以及下探针,下框架固定设置于支架上,下探针装置设置于下框架上,下探针设置于下探针装置上;上针模组包括上框架、上探针装置以及上探针,上探针装置设置于上框架上,上探针设置于上探针装置上。当需要对工件进行测试时,将工件放置于下探针装置上,通过将上框架与下框架相互扣合,通过上探针装置和下探针装置同时对工件的两面压紧,以使上探针能够伸出上探针装

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114578106 A (43)申请公布日 2022.06.03 (21)申请号 202210208304.1 (22)申请日 2022.03.04 (71)申请人 博众精工科技股份有限公司 地址 2

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