CAM单元检查模块及其检查方法.pdfVIP

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  • 2023-05-13 发布于四川
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本发明涉及CAM单元检查模块及其检查方法,所述CAM单元检查模块用于对NAND存储器中的CAM单元进行检查,包括:读取电平设定部,该读取电平设定部基于预先存储的CAM单元读取电平表来设定CAM单元读取电平;特殊读取命令执行部,该特殊读取命令执行部基于所设定的所述CAM单元读取电平,执行特殊读取命令;状态检查部,该状态检查部响应于所述特殊读取命令,进行所述CAM单元的数据读取,并判定所述CAM单元的状态是通过还是失败,在所述特殊读取命令下,所读取的所述CAM单元的数据仅用于所述状态检查部进行所述C

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114649049 A (43)申请公布日 2022.06.21 (21)申请号 202210288757.X (22)申请日 2022.03.23 (71)申请人 东芯半导体股份有限公司 地址 20

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