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可精确定位的测试座.pdfVIP

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  • 2023-05-13 发布于四川
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可精确定位的测试座.pdf

    本申请涉及晶片测试的领域，尤其是涉及一种可精确定位的测试座，其包括：测试座本体、设于该测试座本体上的浮动板、以及设于该测试座本体侧边的侧推装置；该侧推装置具有可相对于该测试座本体水平移动的侧推元件，以及对该侧推元件施加作用力的施力元件，其中，当将晶片放入该浮动板上的晶片测试部中时，借由该施力元件对该侧推元件施加的作用力使侧推元件的推掣端在侧边方向推动该晶片，进而使该晶片在晶片测试部中定位。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114646784 A (43)申请公布日 2022.06.21 (21)申请号 202210258461.3 (22)申请日 2022.03.16 (71)申请人 苏州艾方芯动自动化设备有限公司 地址

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