一种防超时的芯片产品腐球检验工艺.pdfVIP

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2023-05-13 发布于四川
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一种防超时的芯片产品腐球检验工艺.pdf

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本发明提供一种防超时的芯片产品腐球检验工艺，包括以下步骤：步骤1，将芯片从基岛剥离，获得样本，并将样本信息进行记录；步骤2，将样本送入腐球工位，并对腐球工位的腐球杯号和腐球检验开始时间进行记录；步骤3，利用自动控制设备对腐球工位上的样本进行腐球工序；步骤4，利用自动控制设备对腐球到时的样本进行取出，并送去清洗工位进行清洗；步骤5，将清洗后的样本进行确认，并获得样本的腐球结果。本发明用以实现在对芯片生产过程中，进行腐球作业时能够进行自动化生产或自动化控制的目的，使得腐球作业能在规定的预设时间内完成

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 114628268 B (45)授权公告日 2022.07.29 (21)申请号 202210511181.9 JP A,1993.05.25 (22)申请日 2