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本发明提供了一种基于近红外高光谱成像的碳化深度检测方法，本发明通过砼碳化本征及表征检测，近红外高光谱成像数据预处理，获得多个设定强度等级的硅酸盐砼标准试块在不同碳化周期下的的碳化深度数据，以及预处理后的碳化深度数据对应的硅酸盐砼标准试块的表面近红外高光谱成像数据，进而建立硅酸盐砼碳化‑近红外光谱数据库；进而建立硅酸盐砼标准试块表面碳化表征与碳化深度本征之间的映射模型，利用映射模型以及现场获取的近红外高光谱成像数据可推算出构件的碳化深度。本发明不需要接触构件，也不需要对构件进行破损检测，通过简单的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116026785 A
(43)申请公布日 2023.04.28
(21)申请号 202310151842.6
(22)申请日 2023.02.22
(66)本国优先权数据
202310106774.1
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